產(chǎn)品中心/ PRODUCTS CENTER
3504-60 C測試儀
3504-60 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
- 01
更新日期
2023-11-12
- 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
- 03
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842
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3504-50 C測試儀
3504-50 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
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3504-40 C測試儀
3504-40 C測試儀
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
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3506-10 LCR測試儀
3506-10 LCR測試儀 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
- 01
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2023-11-12
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廠商性質(zhì)
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3511-50 LCR測試儀
3511-50 LCR測試儀精巧，非常專業(yè)，5ms快速測量LCR
● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）
● 高精度： ± 0.08%
● 內(nèi)置比較器
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2023-11-12
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IM3533 LCR測試儀
IM3533 LCR測試儀基本精度±0.05％，測量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。
● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。
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2023-11-12
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